NanoMetrology2007 – Metrologia per le Nanotecnologie

Torino,14-15 giugno 2007, Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica- INRIM

L’interesse e l’impegno per le nanotecnologie e le loro applicazioni è destinato a crescere sempre di più, ma sia l’attività di R&S che il trasferimento a livello industriale di nuovi prodotti e processi da esse derivati, si scontra con la mancanza di un quadro di riferimento consolidato dal punto di vista della misurazione a livello nanometrico, di standard e normative riconosciuti. Il confronto e la collaborazione tra comunità scientifica e industria diventa una leva essenziale per individuare le problematiche cruciali nei diversi ambiti produttivi e mettere in evidenza le risposte che la ricerca può dare o i temi sui quali questa dovrebbe/potrebbe impegnarsi.

AIRI / Nanotec IT ed INRIM hanno quindi deciso di riproporre, a due anni di distanza dalla prima edizione, un secondo evento dedicato alla metrologia per le nanotecnologie, con un approccio prettamente application-oriented basato su esperienze ed esigenze industriali concrete.

Sono previsti contributi di esponenti della industria e della ricerca

pubblica nazionali ed anche di alcuni selezionati esperti internazionali,

che consentiranno di fare il punto su stato dell’arte e possibili

innovazioni inerenti le tecniche ed i metodi di misura, la strumentazione

ed i campioni.

Particolare attenzione verrà data ai settori di maggior interesse in ambito

nazionale, nell’intento di promuovere sinergie e collaborazioni.

Il programma prevede anche interventi sulle problematiche connesse alla

sicurezza ed un aggiornamento sugli orientamenti attuali per ciò che

riguarda regolamentazione e normative.


Sessioni tematiche

. Nanofabbricazione, Tecniche top-down, Nanoelettronica, Dispositivi Quantici

. Metrologia a scala atomica, Superfici e strati sottili

. Materiali nanostrutturati, Nanocompositi, Nanoparticelle

. Tecniche interdisciplinari

Comitato Scientifico

. Stefano Bellucci, INFN – Laboratori Nazionali di Frascati

. Anna Maria Fiorello, Selex Sistemi Integrati

. Massimo Gentili, Pirelli Labs

. Gianfranco Innocenti, Centro Ricerche Fiat

. Elvio Mantovani, Airi / Nanotec IT

. Andrea Di Matteo, STMicroelectronics

. Marco Peloi, Sincrotrone Trieste

. Gian Bartolo Picotto, INRIM

. Andrea Porcari, Airi / Nanotec IT

. Roberto Zamboni, CNR / ISMN, Bologna


Informazioni aggiornate sul programma e sulle modalità di partecipazione:

http://www.nanotec.it/