Torino,14-15 giugno 2007, Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica- INRIM
L’interesse e l’impegno per le nanotecnologie e le loro applicazioni è destinato a crescere sempre di più, ma sia l’attività di R&S che il trasferimento a livello industriale di nuovi prodotti e processi da esse derivati, si scontra con la mancanza di un quadro di riferimento consolidato dal punto di vista della misurazione a livello nanometrico, di standard e normative riconosciuti. Il confronto e la collaborazione tra comunità scientifica e industria diventa una leva essenziale per individuare le problematiche cruciali nei diversi ambiti produttivi e mettere in evidenza le risposte che la ricerca può dare o i temi sui quali questa dovrebbe/potrebbe impegnarsi.
AIRI / Nanotec IT ed INRIM hanno quindi deciso di riproporre, a due anni di distanza dalla prima edizione, un secondo evento dedicato alla metrologia per le nanotecnologie, con un approccio prettamente application-oriented basato su esperienze ed esigenze industriali concrete.
Sono previsti contributi di esponenti della industria e della ricerca
pubblica nazionali ed anche di alcuni selezionati esperti internazionali,
che consentiranno di fare il punto su stato dell’arte e possibili
innovazioni inerenti le tecniche ed i metodi di misura, la strumentazione
ed i campioni.
Particolare attenzione verrà data ai settori di maggior interesse in ambito
nazionale, nell’intento di promuovere sinergie e collaborazioni.
Il programma prevede anche interventi sulle problematiche connesse alla
sicurezza ed un aggiornamento sugli orientamenti attuali per ciò che
riguarda regolamentazione e normative.
Sessioni tematiche
. Nanofabbricazione, Tecniche top-down, Nanoelettronica, Dispositivi Quantici
. Metrologia a scala atomica, Superfici e strati sottili
. Materiali nanostrutturati, Nanocompositi, Nanoparticelle
. Tecniche interdisciplinari
Comitato Scientifico
. Stefano Bellucci, INFN – Laboratori Nazionali di Frascati
. Anna Maria Fiorello, Selex Sistemi Integrati
. Massimo Gentili, Pirelli Labs
. Gianfranco Innocenti, Centro Ricerche Fiat
. Elvio Mantovani, Airi / Nanotec IT
. Andrea Di Matteo, STMicroelectronics
. Marco Peloi, Sincrotrone Trieste
. Gian Bartolo Picotto, INRIM
. Andrea Porcari, Airi / Nanotec IT
. Roberto Zamboni, CNR / ISMN, Bologna
Informazioni aggiornate sul programma e sulle modalità di partecipazione:
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